LAP-S1000噴霧全自動激光粒度分析儀-廈門易仕特儀器有限公司

*的光路設計：LAP-S1000采用了(le)夫琅禾費衍射(shè)原理和典型的(de)平行光路設計(ji)🈲，配備了☎️大功率(lǜ)的半導體激光(guāng)器；*的高密度探(tàn)測😍單元🚩，讓LAP-S1000擁有(yǒu)了*的小顆粒測(cè)試能力，LAP-S1000在1μm～1000μm内無(wu)縫測試。同時LAP-S1000又(you)加入了光路自(zì)⛹🏻‍♀️動調整裝置，方(fang)便操作的同時(shi)又延長了儀器(qi)的适用壽命。

大功率半導(dǎo)體激光器：LAP-S1000采用了大(dà)功率的半導體(ti)激光器，增強了(le)儀器的分辨能(neng)力，使小顆粒也(ye)無處藏身。

進口鏡頭：LAP-S1000采用了(le)日本佳能作爲(wei)主鏡頭，畸變小(xiao)成像高，接收端(duan)采用了直徑150毫(hao)米大口徑長焦(jiāo)距鏡頭，顆粒探(tan)測更加。

超(chāo)寬量程：LAP-S1000量程達到了(le)1μm～1000μm。

輔光定位(wèi)：LAP-S1000加入了輔(fǔ)光定位功能，定(ding)位時發射端兩(liǎng)束激光同時發(fa)出，接收📐端雙點(dian)吻合後接收端(duan)即可啓動光路(lù)🚶自動調整系統(tong)，大大簡化了調(diao)整難度。噴(pēn)霧激光粒度分(fèn)析儀

強大(dà)的分析軟件：強大的分析(xī)軟件可以随時(shí)記錄所有激光(guāng)束的内所有🚶‍♀️霧(wù)滴的粒度分布(bù)。在激光束内移(yi)動噴霧測試結(jié)果可以被連續(xù)記錄和統計分(fen)析。

規(gui)格型号		LAP-S1000
執行标準		ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008
測(cè)試範圍		1μm-1000μm
探測器(qi)通道數		66
準确性誤差(chà)		<1%（國家(jiā)标準樣品D50值）
重複性誤差(chà)		<1%（國家(jiā)标準樣品D50值）
進樣方式		開放式進樣(yang)
儀器結構(gou)		一體式或(huo)分體式可選
分體式導軌(guǐ)（選配）		分體(tǐ)式儀器，測試區(qū)域在3米以内可(ke)以選配導軌
激光器參數(shù)		進口光纖(xian)輸出大功率激(ji)光器 λ= 650nm, 功率1-40mw可調(diào)
關鍵參數(shu)	測量區	分體式：儀器(qi)0.1到10米範圍可正(zhèng)常測試
		一(yī)體式：儀器100mm到340mm
	鏡頭	佳(jia)能高性能鏡頭(tou)
	鏡頭保護(hù)	氣幕保護(hu)
	進樣方式(shì)	噴射（包含(hán)霧滴和固體粉(fen)末）
	自動對(duì)中	儀器自(zì)動調整光路，電(dian)腦軟件一鍵自(zi)動完成。
軟(ruan)件功能	分(fen)析模式	包(bao)括自由分布、R-R分(fèn)布和對數正态(tai)分布、按目分級(jí)統計模式等，滿(man)足不同行業對(duì)被測樣品粒度(dù)統計方👌式的不(bu)同要求
	統(tong)計方式	體(tǐ)積分布和數量(liang)分布，以滿足不(bú)同行業對于粒(lì)度分布🌈的不同(tóng)統計方式
	統計比較	可針對多條測(cè)試結果進行統(tong)計比較分析，可(ke)明顯對比不⛹🏻‍♀️同(tong)批次樣品、加工(gōng)前後樣品以及(ji)不同時間測試(shì)結果的差✊異，對(dui)工業原料質量(liàng)控制具有很強(qiáng)的實際意義
	自行DIY	用(yong)戶自定義要顯(xian)示的數據，根據(jù)粒徑求百分比(bi)、根據百分比‼️求(qiú)粒徑或根據
	顯示模闆	粒徑區間求(qiu)百分比，以滿足(zu)不同行業對粒(li)度測試的表征(zhēng)👨‍❤️‍👨方式。徑距、一緻(zhi)性、區間累積等(děng)等
	測試報(bào)告	測試報(bao)告可導出Word、Excel、圖片(pian)（Bmp）和文本（Text）等多種(zhǒng)形式的文檔，滿(man)足在任何場合(hé)下查看測試報(bào)告以及科研文(wén)章中引🈲用測試(shi)結果
	多語(yu)言支持	中(zhong)英文語言界面(miàn)支持，還可根據(ju)用戶要求嵌入(rù)其他語言界面(miàn)。
操作模式(shì)		電腦操作(zuò)
測試速度(du)		<1min/次
重量		25Kg